故障注入板卡
选择多样的通道数和故障总线规格
故障注入板卡具有选择多样的通道数和故障总线规格，电流承载能力从0.3 A到最高40 A，是专门设计用于关乎安全的应用的。这些模块是可扩展的解决方案，可用来在多个硬件在环（HIL）仿真和测试系统中在仿真和现实设备之间切换信号。故障注入单元能很大程度地帮助简化和加速硬件在环应用中的测试，诊断以及集成工作。
0.3-40 A
电流承载能力
故障总线规格
选择多样
PXI/PCI
平台
PXI故障/信号注入矩阵模块
故障/信号注入矩阵的设计基于BRIC结构，我们提供许多不同的尺寸版本，以满足您不同的应用需求
- 接线盒提供传感器连接
- 使用钌合金舌簧继电器
- 多种矩阵尺寸可选，另外可选缩减规模的配置
- 电磁继电器版本的负载电流最高可达10 A
这些PXI故障/信号注入矩阵的设计基于BRIC结构，我们提供许多不同的尺寸版本，以满足您不同的应用需求。 我们所有的故障/信号注入矩阵都具有一个接线盒，允许通过Y轴将故障送到传感器接线上。故障包括断开连接或添加一系列缺陷 —— 所有模块都可以仿真系统中出现的连接问题。三路接线版本还允许转换连接来仿真故障传感器连接。使用可编程矩阵来注入故障可以确保测试快速执行，并可在纠正措施或系统升级时在后续测试周期中重现。
PXI故障注入/信号注入开关模块
PXI/PXIe故障/信号注入矩阵都具有一个接线盒，允许将故障送到传感器接线上
- 可选择通道数和开关配置
- 固态继电器版本负载电流最高达40 A
- 在PXI环境中可使用VISA和Kernel以及IVI驱动
- 在LXI环境中可使用Kernel和IVI驱动
故障包括断开连接或添加一系列缺陷——所有模块都可以仿真系统中出现的连接问题。德思特提供两种开关技术类型：具有串联开关和用于连接一条或多条故障总线的单信号通道；具有串联开关和在信号对和用于连接信号到外部故障输入的开关之间的短路开关的信号对通路。部分型号可被我们的eBIRST开关系统诊断测试工具所支持，这些工具可帮助快速简便地在LXI，PCI和PXI开关系统中查找继电器故障。
PXI差分故障注入开关模块
PXI/PXIe差分故障注入开关模块可选择通道数和开关配置
- 用于两线串行接口的故障注入模块
- 传输线阻抗可控
- 在PXI环境中可使用VISA和Kernel以及IVI驱动
- 在LXI环境中可使用Kernel和IVI驱动
德思特PXI/PXIe差分故障注入开关可支持多通道的两线串行接口。每个通道可以在一条导线或两条导线上仿真开路故障，在两条导线上仿真短路故障或接到外部的短路故障。提供两种类型的模块：适用于CAN总线和FlexRay的两线故障注入模块和适用于千兆以太网，AFDX和BroadR-Reach的高带宽两线故障注入模块。部分型号可被我们的eBIRST开关系统诊断测试工具所支持，这些工具可帮助快速简便地在LXI，PCI和PXI开关系统中查找继电器故障。
用于硬件在环仿真的BOB模块
旨在简化硬件在环仿真应用
- 将分线盒功能集与故障插入单元的灵活性相结合
- 针对故障插入进行优化的模块化配线架
- 紧凑、可靠的设计
- 改善信号完整性
该模块化中断系统将BoB功能集与FIU的额外灵活性结合在一起。 通过使用我们的插件模块将FIU机箱直接连接到BoB，可以最大程度地减少布线，从而打造更紧凑、更可靠的设计并提高信号完整性。由于大多数 UUT 都有多种不同的信号类型和参数需要测试，模块化分线系统的设计意味着您可以在同一机箱中指定多种不同的电压和电流选项。 您只需添加满足测试要求所需的内容，这比其他设计可以节省成本。此外，连接模拟系统和UUT的所有电缆均位于BoB前面板后面。 这使得前面板更加简单，不易损坏。
PCI故障注入开关卡
设计用于在涉及关乎安全的控制器可靠性测试的汽车与航空电子应用中，仿真故障条件
- 基于电磁继电器的2A开关卡，提供75，64或36通道以及1或2条故障总线几种配置
- 适合CAN，FlexRay，AFDX，BroadR-Reach和1000 BaseT以太网等串行接口上的故障注入
德思特提供的PCI故障/信号注入开关卡具有扩展分线特点，能够将故障连接到传感线路上，包括断开连接及添加缺陷——可仿真系统中的连接问题。我们所有的PCI开关卡均可被我们种类齐全的线缆与连接器配件所支持，并且带有标准的三年质保服务。我们还可为这些开关卡提供我们的eBIRST开关系统检测工具，这些工具能够为在LXI，PCI和PXI开关系统中查找继电器故障查找提供快速简便的方法。
应用广泛
医疗
Medical
航空航天
Aerospace
汽车电子
Vehicle Electronics
