德思特ADC/DAC测试系统
高性能模拟和混合信号测试解决方案
德思特ADC/DAC测试系统是一套9槽ATE芯片测试平台，模块化设计确保灵活性与扩展性，专注于数模及模数转换芯片的深度测试。系统囊括ADC/DAC全范围线性动态评估，搭载DIO时钟同步模块，可测8-24 bit ADC/DAC，以高达400 MHz的采样速率，重塑高效芯片测试新标准。
系统优势
德思特ADC/DAC测试系统是加速产品开发、优化资源配置的理想选择
- 全能一体，灵活高效
德思特ADC/DAC测试系统采用高度集成设计，将多种测试功能浓缩于一体，极大地简化了设备的安装和使用流程。接线简便特性意味着用户可以快速部署，无需面对复杂的连线难题。平台支持模块化定制，用户可以根据具体需求自由选择和组合测试模块，实现个性化测试方案。更重要的是，该系统提供多项参数可调功能，确保能够精准适配不同用户的具体测试需求。通过整合多项测试于一身，一部系统即可完成多样测试任务，有效避免了额外采购测试配件的成本和繁琐，显著降低了维护成本和整体运营开支。
- 极速测试，加速研发进程
仅需要花用户1周时间就可以完成待测板的设计制作，与德思特ADC/DAC测试平台进行对插。如果用传统的仪器及测试方法，则用户需要花大概3-4周的时间去完成待测板+仪器线路的设计搭建，额外还需要花更多的时间可能长达1-2个月去做多台仪器的联动控制，自己开发测试执行软件的难度也非常大；而德思特的平台直接提供了完整的测试项，极大节省了用户的研发测试时间，效率提升10倍不止！
传统仪器及方法
测试灵活性差，需要准备较多物料和仪器、多种仪器需要独立控制再联动
德思特ADC/DAC测试系统
大幅简化测试板的设计，提供完整测试项
- 开箱即用，所得即所需
德思特ADC/DAC测试系统集成了强大的管理系统，统一调配硬件资源与测试流程，让用户从繁琐的软硬件兼容性问题中解脱出来。无论是进行基本的静态测试，还是复杂的动态性能评估，平台几乎覆盖了所有常见的测试项目，用户只需根据实际需求进行简单配置，即可一键启动自动化测试流程。这一设计摒弃了传统测试中需要用户手动搭建软件平台以适配多种硬件设备的不便，大幅降低了操作难度和时间成本。
德思特ADC/DAC测试系统内置了精密的校准机制，确保每一次测试都能达到极高的准确度与可靠性，为用户提供值得信赖的测试结果。平台的各测试模块在完成数据采集后，会自动通过先进的配套软件进行深度分析与处理，无需用户再编写额外的程序来完成数据的补偿、汇总和运算。这种智能化的数据处理能力，能够即时输出关键性的测试结论，使用户能够迅速把握产品性能的核心指标，为后续的决策提供坚实的数据支撑。
支持丰富的测试项目
德思特ADC/DAC测试系统涵盖广泛测试项目的综合性解决方案，符合高标准要求
ADC线性测试
失调误差；缺码分析
增益误差；触发点
满量程误差
积分非线性误差
差分非线性误差
整体误差
DAC线性测试
失调误差
增益误差
满量程误差
积分非线性误差
差分非线性误差
整体误差
ADC直方图测试
积分非线性误差
差分非线性误差
整体误差
触发点
缺码分析
动态测试
信噪失真比
实际有效位数
信噪比
总谐波失真
无杂散动态范围
峰值失真
产品特点及参数
德思特ADC/DAC测试系统集高效能、高精度与灵活性于一体
ADC/DAC测试系统产品特点
TS-ATX7006A是一个完全集成的解决方案，用于测试ADC,DAC和其他模拟功能。它结合了非常高的精度,低噪声和快速采样、易用性等诸多优势。传统上，数模转换芯片是使用一整套台式仪器、滤波器、开关矩阵和用户自定义软件进行测试。 ATX7006A是一款适用于所有数模转换芯片测试的单一仪器。这意味着您可以专注于ADC/DAC测试转换器，而不是微调测试设置。
- 完全集成的ADC/DAC芯片测试平台
- 定制化测试解决方案
- AWG采样率高达400 MHz
- 无与伦比的信号质量和精度
- 广泛的测试项目支持
- 灵活的通用数字IO模块
- 自带分析软件，提供多种视图
- 允许自定义的测试脚本
ADC/DAC测试系统配套软件ATView
TS-ATX7006A配有ATView，这是一个软件包，用于配置，编程和控制TS-ATX7006A并分析测试结果。
- 项目工程
- 测试分析
- 适用于Windows PC
- 显示时域、频域和直方图测试的结果
设置测试只需要在仪表板上填写字段，如果适用的话，编程一个数字模式，然后按下START按钮。在测试后，结果在WaveAnalyzer中查看。WaveAnalyzer可以显示时域、频域和直方图测试的结果。缩放、堆栈和光标功能在任何级别都可用。保存测试结果，包括所有设置。测试结果和测试条件都以XML格式存储，允许用户进一步处理。导出文件格式可以是CSV格式，同时也可以是图片，方便导入到报告中。
灵活可配置的内部模块
数字化仪TS-WFD系列可选
型号 | 类别 | 分辨率 | 采样率 |
|---|---|---|---|
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/wfd16/" target="_blank">TS-WFD16</a> | 数字化仪模块 | 16位 | 180Msps |
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/wfd20/" target="_blank">TS-WFD20</a> | 数字化仪模块 | 20位 | 2Msps |
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/wfd22/" target="_blank">TS-WFD22</a> | 数字化仪模块 | 22位 | 1Msps |
*点击具体型号可查看详细参数
任意波形发生器TS-AWG系列可选
型号 | 类别 | 分辨率 | 更新速率 |
|---|---|---|---|
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/awg16/" target="_blank">TS-AWG16</a> | 任意波形发生器模块 | 16位 | 400Msps |
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/awg18/" target="_blank">TS-AWG18</a> | 任意波形发生器模块 | 18位 | 300Msps |
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/awg20/" target="_blank">TS-AWG20</a> | 任意波形发生器模块 | 20位 | 2Msps |
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/awg22/" target="_blank">TS-AWG22</a> | 任意波形发生器模块 | 22位 | 2Msps |
*点击具体型号可查看详细参数
其他可选模块
型号 | 类别 | 特性 |
|---|---|---|
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/drs20/" target="_blank">TS-DRS20</a> | 参考源模块 | 支持±10 V-10 mA双通道参考源输出 |
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/dps16/" target="_blank">TS-DPS16</a> | 电源模块 | 支持±12 V-200 mA双通道参考源输出 |
<a href="https://www.tesight.com/adc-dac-test-system/dio-ii/" target="_blank">TS-DIOII</a> | 数字IO模块 | 支持20/24路data bits位，8路pattern bits，时钟源 |
*点击具体型号可查看详细参数
技术服务与开箱视频
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德思特是电子测试测量领域内领先的解决方案供应商。主要业务范围涵盖：汽车电子仿真及测试、射频微波及无线通信测试、无线频谱监测与规划、无线通信（包括智能网联汽车无线通信、轨道交通、卫星通信、室内无线通信）、半导体测试、PNT解决方案、大物理和光电测试等。 我们围绕汽车电子、射频微波、通信、航空航天等行业提供专业可靠的解决方案，现有客户包括华为、德赛西威、蔚来汽车、理想汽车、航天科工集团、清华大学、北京航空航天大学、中电科集团等。我们是中国无线电协会、中国通信企业协会、雷达行业协会、RIS智能超表面技术协会等行业协会的会员，致力与客户共同发展，促进产业升级。
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