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演讲时间
演讲主题
演讲内容
演讲嘉宾
14:10-14:50
详解ADC性能测试方案
1.ADC性能测试应用分析
2.ADC性能测试方案细节
3.ADC性能测试典型场景
赵予舒
14:55-15:35
使用ATX7006A高端集成系统进行ADC与DAC芯片的精确测量
1.ATX7006A硬件介绍
2.ATX7006A测试软件
3.客户案例
4.实时测量演示
Horst Beekhuizen
15:40-16:20
数字化仪和AWG在元件测试和混合信号测试中的应用
1.数字化仪和AWG介绍
2.元件测试和混合信号测试应用
3.关键特性
Greg Tate
LECTURER
讲师介绍
赵予舒
中国传媒大学信息与信息处理
专注于电子测试测量及车联网技术
专注于电子测试测量及车联网技术研究与应用方向，致力于以高水平、准确和生动的方式将电子仿真及测试和车路协同技术传达给用户
Horst Beekhuizen
&Iwan Boersma
Salland销售经理和技术专家
负责模拟测试解决方案，如ATX、PXI产品和相关软件和硬件，在模拟测试解决方案方面拥有超过25年经验
Greg Tate
德国Spectrum Instrumentation亚洲业务经理
拥有应用物理学背景，在电子测试和测量行业拥有超过35年的工作经验；专注于模拟和数字信号采集
